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大连瑞闻科技有限公司
Rivin Technology Company Ltd
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| 产品展示 > FILMETRICS薄膜测量系统 > F50/F60系列：空白晶圆薄膜厚度的自动测绘仪 |
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| F50系列：在F20 系列基础上增添了自动测绘能力，能以每秒钟 2 个点的速度测绘厚度和折射率。
F50-XY-450系列：用于测绘直径大于 300mm 的晶圆。
F60-t系列：能满足生产环境的台式测绘，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置。 |
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