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大连瑞闻科技有限公司
Rivin Technology Company Ltd
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| 产品展示 > FILMETRICS薄膜测量系统 > F80系列：产品晶圆薄膜厚度的自动测绘仪 |
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| F80系列:图案化半导体的自动测绘
F80-t系列:能满足生产环境的产品晶圆台式测绘系统，21 秒内能测量 15 个点。
F80-c系列:在F80-t 的基础上加入晶圆自动传输，能够测量大到 300mm 的晶圆。
F80-a 系列：配备晶圆分类输送的自动测绘系统，支持大到 300mm 的晶圆。 |
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